雷擊浪涌對電子設(shè)備的影響

大家都知道，雷擊和浪涌是兩個(gè)單獨(dú)的現(xiàn)象，但是一旦發(fā)生雷擊就勢必會(huì)產(chǎn)生浪涌，這種浪涌我們一般稱之為雷擊浪涌。雷擊浪涌產(chǎn)生的時(shí)間是非常短的，大概在微微秒級。浪涌出現(xiàn)時(shí)，電壓電流的幅值超過正常值的兩倍以上。由于輸入濾波電容迅速充電，因此該峰值電流要遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)輸入電流。電源應(yīng)該限制AC開關(guān)、整流橋、保險(xiǎn)絲、EMI濾波器件能承受的浪涌水平。反復(fù)開關(guān)環(huán)路，AC輸入電壓不應(yīng)損壞電源或者導(dǎo)致保險(xiǎn)絲燒斷。那么雷擊浪涌的發(fā)生對電子設(shè)備會(huì)有什么影響呢？下面辰儀科技給您講解：
  1、電壓波動(dòng)。在正常工作狀態(tài)下，機(jī)器設(shè)備會(huì)自動(dòng)啟動(dòng)或停止。用電設(shè)備中有空調(diào)、壓縮機(jī)、電梯、泵或電機(jī)，電腦控制系統(tǒng)經(jīng)常出現(xiàn)無理由復(fù)位。電機(jī)經(jīng)常要更換或重繞。電氣設(shè)備由于故障、復(fù)位或電壓問題而縮短使用壽命。
  2、對設(shè)備造成破壞。電壓擊穿半導(dǎo)體器件，破壞元器件金屬化表層，破壞印刷電路板印刷線路或接觸點(diǎn)，破壞三端雙可控硅元件/晶閘管。
  3，對設(shè)備造成使用干擾。鎖死、晶閘管或三端雙向可控硅元件失控，數(shù)據(jù)文件部分破壞，數(shù)據(jù)處理程序出錯(cuò)，接收、傳輸數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤和失敗，過早老化，零部件提前老化、電器壽命大大縮短，輸出音質(zhì)、畫面質(zhì)量下降。

了解了雷擊浪涌對電子設(shè)備的影響與危害后，在雷擊浪涌發(fā)生的時(shí)候，我們就要及時(shí)果斷的切斷電源，以避免發(fā)生其它危害。

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